Визуальное моделирование электронных схем в PSPICE | страница 77



R>тепл = R>хол * (1 + TC1 * Δν + TC2 * Δν²),

где Δν — отклонение реальной температуры схемы ν>наст от стандартной температуры измерения, равной по умолчанию 27 °С.

Аналогичные формулы используются и для расчета емкостей и индуктивностей.

Для того чтобы задать резистору линейную температурную характеристику, выполните следующие действия:

1. Замените в своей схеме, предварительно сохранив ее и присвоив таким образом какое-нибудь имя, все резисторы, которые должны зависеть от температуры, на резисторы типа Rbreak, находящиеся в библиотеке BREAKOUT.slb.

2. Щелкните по одному из резисторов типа Rbreak, после чего он будет выделен красным цветом.

3. Откройте в редакторе SCHEMATICS меню Edit.

4. Щелкните по строке Model… и откройте окно Edit Model (см. рис. 7.14).

5. Щелкните по кнопке Edit Instance Model (Text)…, чтобы открыть окно Model Editor (см. рис. 7.15).

6. Добавьте в редакторе моделей строку, в которой рядом с TC1 будет указан нужный вам температурный коэффициент (например, TC1=0.0067) — см. рис. 7.16.

7. Закройте редактор моделей, щелкнув по кнопке OK.

8. Откройте окно атрибутов каждого из резисторов типа Rbreak (двойной щелчок мышью по схемному обозначению) и отредактируйте установленные для них по умолчанию значения сопротивлений при стандартной температуре измерения 27 °С.

Теперь все резисторы типа Rbreak, установленные в вашей схеме, имеют необходимую температурную характеристику. Если вы соберетесь чертить новую схему и захотите установить в ней резистор типа Rbreak, то он снова не будет иметь никакого температурного коэффициента, то есть, чтобы сделать его зависимым от температуры, вам потребуется опять повторить всю вышеуказанную процедуру.

Урок 8

Параметрический анализ

В этом уроке речь идет о правилах проведения параметрического анализа. Вы научитесь выводить на экран PROBE диаграммы семейств кривых не только для анализа цепи постоянного тока, но и для анализа переходных процессов.

Параметрический анализ (Parametric Sweep) расширит круг ваших возможностей по изображению семейств кривых. Вы уже научились, проводя анализ цепи постоянного тока, использовать наряду с основной переменной еще одну, дополнительную, и таким образом создавать семейства кривых. С помощью параметрического анализа вы сможете выводить на экран PROBE диаграммы семейств кривых не только для анализа цепи постоянного тока (DC Sweep), но и для анализа цепи переменного тока (AC Sweep), и для анализа переходных процессов (Transient Analysis). Навыки, приобретенные вами в проведении анализа DC Sweep одновременно с вложенным анализом Nested Sweep, помогут вам без особых трудностей овладеть и параметрическим анализом. Принципы проведения сдвоенного анализа DC Sweep и параметрического анализа практически одинаковы.